智能贵金属分析仪，镀层厚度检测分析仪，X射线荧光光谱贵金属分析仪

应用领域：
珠宝加工业、珠宝店、贵金属冶金厂、质检机构、分析测试中心、当铺、贵金属回收、RoHS检测、镀层厚度检测等内容检测。
特点：
的检测技术——X-硅漂移探测器（X-SDD），分辨率低至125eV。的数字多通道技术。
大功率X射线管和精密的准直滤光系统。
二维移动样品平台——支持图像联动控制，多点连续测试。

特征：

● MRC的检测技术——硅漂移探测器（X-SDD），分辨率低至125eV

● 数字多通道技术以 30 kcps 计数率提高效率

● 大功率X射线管和自动准直/滤光系统提供更高的激发效率

● 光学快门系统提高测试效率和准确性

● 2D可移动样品平台——支持图像控制和多点测试

● 检测小至1mm的样品